X熒光測(cè)厚儀是建立適合用戶(hù)的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù)，才能將X射線(xiàn)熒光光譜儀效能發(fā)揮很好，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標(biāo)準(zhǔn)樣品制備等工作。建立好自己面向應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)樣品庫(kù)，可以讓自己的檢測(cè)做到一定的效果。接下來(lái)和奧譜瑪一起了解X熒光測(cè)厚儀樣品測(cè)試技巧。

　　X熒光測(cè)厚儀樣品測(cè)試技巧：

　　1. 樣品擺放技巧樣品結(jié)構(gòu)對(duì)測(cè)試影響

　　樣品放置原則

　　從正面看，X 射線(xiàn)熒光接受器在所放置樣品的前邊。必須正確放置樣品，保證 X 射線(xiàn)熒光不受干擾地到達(dá)探測(cè)器。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)片之類(lèi)的表面很平的樣品來(lái)說(shuō)，把它們放在測(cè)量臺(tái)上就足夠了。 對(duì)于棒狀的圓柱形樣品來(lái)說(shuō)，放置時(shí)應(yīng)注意使樣品在測(cè)量臺(tái)上的縱軸與儀器軸平行。

　　1.1樣品擺放方向及位置由設(shè)備結(jié)構(gòu)決定(結(jié)構(gòu)如下圖1)

　　(圖1)

　　水平要求：樣品測(cè)量面與工作臺(tái)面平行，與X射線(xiàn)方向保持垂直

　　位置要求：長(zhǎng)條形和圓柱形樣品軸向與計(jì)數(shù)器保持垂直，以接受更多X熒光(如下圖2)

　　(圖2)

　　根據(jù)上圖可以看出，圓柱形的工件正確的放置方法是垂直放置。

　　并且一定要放置到工件正中央軸線(xiàn)上。 角形或臺(tái)階式樣品的放置十分重要，樣品不能擋住 X 熒光

　　2.被測(cè)工件與接收器之間的關(guān)系

　　被測(cè)工件放置方向與接收器之間的關(guān)系

　　3.為了正確測(cè)量涂鍍層厚度，樣品的直徑￠應(yīng)大于測(cè)試面積的四倍：

　　￠ > 4 M

　　對(duì)于曲率半徑 r，相應(yīng)公式為: r > 2M

　　4.異形件

　　保持與測(cè)量面水平，不可晃動(dòng)，垂直截面長(zhǎng)軸方向與計(jì)數(shù)管垂直。

　　5. 細(xì)小件

　　保持與測(cè)量面水平，不可晃動(dòng)，垂直截面長(zhǎng)軸方向與計(jì)數(shù)管垂直。設(shè)備選用準(zhǔn)直器小于測(cè)量點(diǎn)。

　　6.工作臺(tái)面承重，<2KG

　　14 滿(mǎn)足樣品腔尺寸規(guī)格，超出尺寸可打開(kāi)樣品腔適當(dāng)測(cè)量。

　　7. 測(cè)量時(shí)間的選擇。

　　測(cè)量時(shí)間越長(zhǎng)穩(wěn)定度越好。一般來(lái)說(shuō)，單鍍層不少于 15 秒，雙鍍層和合金比例測(cè)量時(shí)間不少于 30

　　秒，三鍍層測(cè)量時(shí)間不少于 45 秒，鍍液主鹽離子濃度測(cè)量時(shí)間在 30~60 秒之間

　　8. 統(tǒng)一鍍層標(biāo)識(shí)方法(參考Fischer)

　　A、單層：如 Au/Ni (Au：表示鍍層，Ni：表示底材)

　　B、雙層：如 Au/Ni/Cu (Au：表示最上層 Top. Coating)

　　(Ni：表示中間層 Int. Coating)

　　(Cu：表示底材Base)

　　C、合金比例及厚度： 如 SnPb ( % Sn ) / Cu Thickness：

　　表示SnPb(錫鉛合金的厚度) Comp.(%)： 表示

　　Sn(錫的比例)，則Pb鉛的比例為

　　9. 常用元素符號(hào)、原子序數(shù)、密度及合金的表示

　　* EN (NiP) (化學(xué)鎳) (無(wú)電解鎳)

　　1) 低磷 EN：含磷量 6%以下，密度：8.315

　　2) 中磷 EN：含磷量 7 ~ 9%，密度：8.164

　　3) 高磷 EN：含磷量 10~12%，密度：8.020

　　* 合金銅：

　　1) Bronze (青銅) (銅錫合金，錫含量約 4-6%)

　　2) Brass (黃銅) (銅鋅合金，鋅含量約 40%)

　　3) Red Brass (紅銅) (鋅 15%，銅 85%)

　　以上就是奧譜瑪整理分享的關(guān)于X熒光測(cè)厚儀樣品測(cè)試技巧，經(jīng)過(guò)此文相信大家對(duì)品測(cè)試技巧有了一定的了解。想了解更多相關(guān)資訊，歡迎持續(xù)關(guān)注。