XUV

XUV? 系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過 X 射線熒光分析 (RFA) 檢測(cè)原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素。由于空氣會(huì)吸收輕元素的熒光X射線，因此在大氣環(huán)境中通常無法使用該方法。因此，該儀器非常適合對(duì)要求嚴(yán)苛的鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量和材料分析。

特性：

• 檢出限低、重復(fù)精度高，以及測(cè)量適用性廣，因此特別適用于研究和開發(fā)使用

• 配備真空測(cè)量室和高性能硅漂移探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)精確測(cè)量，尤其是對(duì)輕元素的測(cè)試

• 通過可編程 X、Y 和 Z 軸進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試

• 準(zhǔn)直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測(cè)試條件

應(yīng)用：

涂層厚度測(cè)量

• 原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測(cè)量厚度低至納米級(jí)

• 鋁鍍層和硅鍍層

材料分析

• 測(cè)定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地

• 常規(guī)材料分析和取證

• 高分辨率痕量分析